產品介紹

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表面粗度儀
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質量、力量
電量
其他
用途分類
表面粗度儀主機
SV-C3200 系列/ SV-C4500系列
產品編號

       

款式
產品型號 X 軸 Z 軸(立柱)
SV-C3200S4

525-481C-1(0.75mN)
525-481C-2(4mN)

100mm 300mm
SV-C3200H4
525-482C-1(0.75mN)
525-482C-2(4mN)
500mm
SV-C3200W4
525-483C-1(0.75mN)
525-483C-2(4mN)
SV-C3200S8
525-486C-1(0.75mN)
525-486C-2(4mN)
200mm 300mm
SV-C3200H8
525-487C-1(0.75mN)
525-487C-2(4mN)
500mm
SV-C3200W8
525-488C-1(0.75mN)
525-488C-2(4mN)

  

款式
產品型號 X 軸 Z 軸(立柱)
SV-C4500S4

525-441C-1(0.75mN)
525-441C-2(4mN)

100mm 300mm
SV-C4500H4
525-442C-1(0.75mN)
525-442C-2(4mN)
500mm
SV-C4500W4
525-443C-1(0.75mN)
525-443C-2(4mN)
SV-C4500S8
525-446C-1(0.75mN)
525-446C-2(4mN)
200mm 300mm
SV-C4500H8
525-447C-1(0.75mN)
525-447C-2(4mN)
500mm
SV-C4500W8
525-448C-1(0.75mN)
525-448C-2(4mN)

適用軟體:FORMTRACEPAK 

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特色

          

可作上下雙向測量(僅SV-C4500)。 

測定臂磁吸式設計,增加使用安全性。

Z1軸(輪廓)
量測壓力
解析度
指示精度
SV-C3200
30mN
0.04μm
±(1.6+∣2H∣/100)μm
SV-C4500
10、20、30、40、50mN
軟體Formtracepak擇一設定
0.02μm
±(0.8+∣2H∣/100)μm

H:Z1軸(檢出部)從水平位置測定的高度(mm)    

最高等級的指示精度。Z1軸搭載了高精度圓弧光學尺,縮小由測針前端造成的圓弧軌道所產生的誤差,實現了高精度、高分解能的測量。

 

X軸(表粗驅動部)
真直度
S4、H4、W4
(0.05+0.001L)μm,L:驅動長度(mm)
S8、H8、W8
0.5μm/200mm

 

X軸(輪廓驅動部)
指示精度
真直度
S4、H4、W4
±(0.8+0.01L)μm,L:驅動長度(mm)
廣範圍:1.8μm/100mm
狹範圍:1.05μm/25mm
0.8μm/100mm
S8、H8、W8
±(0.8+0.02L)μm,L:驅動長度(mm)
廣範圍:4.8μm/200mm
狹範圍:1.3μm/25mm
2μm/200mm

X軸(驅動部)搭載光學尺,全行程高精度量測。(SV-C3200SV-C4500皆然)

              

組合了兩側圓錐測針,能夠連續測量上下面(僅SV-C4500)。

上下面連續測量的資料,可以簡單解析以往難以量測的螺絲有效徑(僅SV-C4500)。 

 

                

”Z1軸的增益“、”對稱性“、”上下兩側圓錐測針半徑“等繁瑣的校正作業,得以一次完成(僅SV-C4500)。

 

               

Formtracepak軟體可設定測定力(五階),不需手動變換重量、調整配重位置,並能追蹤傾斜姿勢(僅SV-C4500)。

 

                      

更快的移動速度,縮短總測量時間,提升測量效率。 

 

             

新設計擴大Z1軸(檢出器)的測定範圍,也減少作業中的干涉。 

 

                    

                    

測定臂以磁性接頭銜接至主機,並配有安全裝置,可輕鬆更換測定臂。   

                         

因應高速度的量測 ,檢出器、驅動部等配線,全部設計在機體內,避免干擾量測。

 

輪廓測定部
表面粗度測定部
提升機器操作的安全性,於Z1軸檢出器設計有安全性裝置(碰撞時自動停止機能),測定臂如果沒有裝好或鬆脫,機器會自動停止。
 
              
 
從位置決定到測定都可以用搖桿控制移動。控制盒上並設有緊急停止開關和驅動速度控制鈕,增加快速移動的安全性。
 
                              
Z2軸(立柱)搭載光學尺,可反覆進行段差測定,複數斷面測定時不須再做原點設定。
 
                   
X軸配備有傾斜調整裝置,可以克服傾斜面或難以垂直擺正的重工件。
搭配各種微動裝置,簡單決定量測位置,可進行傾斜面、小孔測定等作業。
 
θ1旋轉裝置:
自動測定圓周上的形狀
θ2旋轉裝置:
複數斷面自動連續測定

利用CNC形狀測定機豐富的周邊配備,即可進行簡易的CNC測定。 

  

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規格

粗度部分:

Z1軸(檢出器)
量測範圍
800 μm
80μm
8μm
檢出器測定方法
差動感應
檢出器解析度
0.01/800μm
0.001/80μm
0.0001/8μm
檢出器測針尖端
-1:60°、半徑2μm
-2::90°、半徑5μm
檢出器測定壓力
-1:0.75mN
-2:4mN
X軸驅動部
量測速度
0.02~5mm/s
X軸驅動部
移動速度
0~80mm/s、手動
X軸驅動部解析度
0.05μm
Z2軸移動速度
0~20mm/s、手動
Z2軸解析度
1μm
粗度規格
JIS1982 / JIS1994 / JIS2001 / ISO1997 / ANSI / VDA
參數
Ra、Rq、Rsk、Rku、Rp、Rv、Rz、Rt、Rc、RSm、R△q、Rm(rC)、Rmr、Rσc、Ry、RyDIN、RzDIN、R3y、R3z、Pa、Pq、Psk、Pku、Rp、Rv、Pz、Pt、Pc、PSm、P△q、Pm(rC)、Rmr、Rσc、Wa、Wq、Wsk、Wku、Wp、Wv、Wz、Wt、Wc、WSm、W△q、Wm(rC)、Wmr、Wσc、Wx、AW、W、Wte、S、HSC、Lo、Ir、△a、λa、、λq、VoHtpNRNCRXCPMSRSARNWSW、SAW
評估曲線
原始曲線、粗度曲線、封包殘餘曲線、濾波波紋曲線、頻帶曲線、波紋曲線、滾圓波紋曲線、粗度MOTIF、波紋MOTIF、DIN4776曲線
圖形
振福分佈圖、BAC1、BAC2、能量波譜曲線、自動相關曲線、傾斜角度分佈曲線、峰值分佈曲線、參數分佈曲線
資料補正
傾斜補正、R面補正、橢圓補正、拋物線補正、雙曲螺線補正、多項式曲線補正、圓錐自動補正、多項式曲線自動補正
數位濾波器
高斯濾波器、2CRPC75、2CRPC75、2CR75、2CR50、robust spline濾波器
擷取長度
λc(mm):0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8、25、80、任意
λs(μm)0.8、2.5、8、25、80、250、800、0.25、任意

 

輪廓部分:

一、測定範圍
Z1軸
60mm(水平狀態±30mm)
二、檢出器(Z1軸)
測長裝置
圓弧光學尺
測針作動
圓弧上下運動
測定方向
拉、推兩種方向
測定面方向
上、下兩種方向(單獨測定)
量測壓力
10、20、30、40、50mN(使用軟體Formtracepak設定)
測針角度限制
上升:77°、下降:83°(使用標準附屬品的片角測針時)
依工件表面性質而定
三、驅動部
測長裝置
X軸:分離式線性規
Z2軸(立柱):ABS光學尺
解析度
X軸:0.05μm
Z2軸(立柱):1μm
驅動速度
X軸:0~80mm/s、手動操作
Z2軸(立柱):0~30mm/s、手動操作
測定速度
X軸:0.02~5mm/s
傾斜角度
±45°

 

      

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尺寸

S4、H4、W4機種(X軸行程100mm),SV-C3200SV-C4500皆然

機種
H1 H2 H3 W1 W2
S4
966
854
100
438
600
H4 1166 1054
W4 1167 110 838 1000

 

S8、H8、W8機種(X軸行程200mm),SV-C3200SV-C4500皆然

機種
H1 H2 H3 W1 W2
S8
966
854
100
438
600
H8 1166 1054
W8
1167 110 838 1000

  

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